Réticule de mesure 2x/20:200, 26 mm
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Référence: 4740250000000
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Valise de transport pour ZEISS Stemi 305 ou 508 / Stand M
Avec roulettes, poignée télescopique et poignée latérale
Distance de travail : 128 mm
Statif N avec colonne 32/450 mm
Molettes de déplacements, pinces de blocage échantillon
Surface de travail : 116x137 mm
Mouvements XY : 50x75 mm
Pour éclairage en réflexion
Platine type ''Sliding'' - Déplacements XY à mains
Surface de travail : 125x170 mm
Mouvements XY : 100x100 mm
Avec insert en verre d=94,5mm pour éclairage en transmission
Micromètre-objet 25mm:25 + 5mm:50 Stemi, certifié
Pour sources K LED et contrôle de l'intensité
Graduated mechanical Stage with glass plate for EM Series
Dust Protection Glass M52/M49
Lame lambda dans la coulisse
Base plate ergonomique avec support de corps stéréomicroscope
Système de mise au point (crémaillère). Sans éclairage.
Alimentations intégrées pour éclairages (type annulaire, spot, ...)
Base 310x200 mm
Platine à glissière +/-20mm, tournant, d=84mm