Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Référence: 4354259010010
Appui bras pour une meilleure ergonomie
Appui bras pour une meilleure ergonomie
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Distance de travail : 185 mm
Statif N avec colonne 32/450 mm
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
SPOT à LED simple inclinable
Se place directement sur les statifs K MAT / K EDU / K LAB
Alimentation par Contrôleur K LED ou directement sur le statif
Base plate ergonomique avec support de corps stéréomicroscope
Système de mise au point (crémaillère). Sans éclairage.
Alimentations intégrées pour éclairages (type annulaire, spot, ...)
Base 310x200 mm
Base plate ergonomique avec support de corps stéréomicroscope
Système de mise au point (crémaillère).
Sans éclairage
Monture pour intégrer le module d'éclairage en transmission
Alimentations intégrées pour éclairages
Avec 2 potentiomètres pour réglage de l'intensité lumineuse
Base large 340x300 mm avec interface pour platine XY
Insert blanc/noir et insert en verre
Hauteur crémaillère : 360 mm
Avec roulettes, poignée télescopique et poignée latérale
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Pour sources K LED et contrôle de l'intensité
Système optique avancé ZEISS
Grossissement zoom 5:1 (0,8x à 4x)
Construction en matériaux dissipatifs électrostatiques (ESD) pour prévenir l'accumulation de charges statiques
Éclairage LED intégré pour la lumière incidente et transmise
Éclairage homogène et durable avec faible consommation d'énergie
Design compact et ergonomique pour une utilisation confortable
Commandes intuitives et faciles à atteindre
Compatible avec les caméras numériques ZEISS pour la capture et l'analyse d'images
Idéal pour l'industrie électronique, les inspections de semi-conducteurs, et les travaux de réparation de circuits imprimés
Dust Protection Glass M52/M49
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x. Système optique Greenough
Oculaires 10x/23 Br Focus. Ratio Zoom 5/1
Grossissements 8x à 40x
FOV Max : 29mm - WD = 110mm
Eclairage semi-coaxial intégré (alimentation par statif ou contrôleur)