Réticule de mesure 2x/20:200, 26 mm
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Référence: 4350639010000
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Micromètre à réseau 12,5x12,5/5:10 d=26 mm
Permet une distance de travail de 233 mm à 90 mm
Permet de faire varier la mise au point et le grossissement
Pour ZEISS STEMI 305 ou 508
Avec adaptateur
Support de stéréomicroscope colonne 32 avec mouvement
Micromètre oculaire 10:100, d=26 mm
Pour sources K LED et contrôle de l'intensité
Platine à glissière +/-20mm, tournant, d=84mm
Micromètre-objet 25mm:25 + 5mm:50 Stemi, certifié
Platine type ''Sliding'' - Déplacements XY à mains
Surface de travail : 125x170 mm
Mouvements XY : 100x100 mm
Pour éclairage en réflexion
Distance de travail : 43 mm
Avec 2 pinces échantillon et insert en verre 72mm
Support pour polariseur S (4551740000000)
Support pour lame Lambda (4551720000000)
Plaque de verre transparente
Graduated mechanical Stage with glass plate for EM Series
Distance de travail : 128 mm