Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Référence: 4350639010000
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Micromètre / Etalon objet pour loupe binoculaire
25 lignes avec 1 mm d'intervalle
50 lignes avec 1/10 mm d'intervalle
(Une version avec certificat d'étalonnage est disponible)
Pour sources K LED et contrôle de l'intensité
Base ergonomique avec support corps stéréomicroscope
Système de mise au point à crémaillère
Potentiomètres de réglage de l'intensité lumineuse
Eclairage LED en transmission avec miroir orientable (Champ clair, fond noir et éclairage oblique)
Electronique / alimentation pour éclairage en réflexion
Base : 310x200mm
Micromètre oculaire 10:100, d=26 mm
Platine type ''Sliding'' - Déplacements XY à mains
Surface de travail : 125x170 mm
Mouvements XY : 100x100 mm
Pour éclairage en réflexion
Platine à glissière +/-20mm, tournant, d=84mm
Valise de transport pour ZEISS Stemi 305 ou 508 / Stand M
Avec roulettes, poignée télescopique et poignée latérale
Micromètre à réseau 10x10/5:10, d=21 mm
Lame lambda dans la coulisse
Statif N avec colonne 32/450 mm
Micromètre à réseau 12,5x12,5/5:10 d=26 mm
Polariseur/Analyseur tournant - Monture M49/52
Système optique avancé ZEISS
Grossissement zoom 5:1 (0,8x à 4x)
Construction en matériaux dissipatifs électrostatiques (ESD) pour prévenir l'accumulation de charges statiques
Éclairage LED intégré pour la lumière incidente et transmise
Éclairage homogène et durable avec faible consommation d'énergie
Design compact et ergonomique pour une utilisation confortable
Commandes intuitives et faciles à atteindre
Compatible avec les caméras numériques ZEISS pour la capture et l'analyse d'images
Idéal pour l'industrie électronique, les inspections de semi-conducteurs, et les travaux de réparation de circuits imprimés