Réticule de mesure 2x/20:200, 26 mm
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Référence: 4350639010000
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x - Systme optique Greenough
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Micromètre oculaire 10:100, d=26 mm
Molettes de déplacements, pinces de blocage échantillon
Surface de travail : 116x137 mm
Mouvements XY : 50x75 mm
Pour éclairage en réflexion
Support de stéréomicroscope colonne 32 avec mouvement
Plaque de verre transparente
Système optique avancé ZEISS
Grossissement zoom 5:1 (0,8x à 4x)
Construction en matériaux dissipatifs électrostatiques (ESD) pour prévenir l'accumulation de charges statiques
Éclairage LED intégré pour la lumière incidente et transmise
Éclairage homogène et durable avec faible consommation d'énergie
Design compact et ergonomique pour une utilisation confortable
Commandes intuitives et faciles à atteindre
Compatible avec les caméras numériques ZEISS pour la capture et l'analyse d'images
Idéal pour l'industrie électronique, les inspections de semi-conducteurs, et les travaux de réparation de circuits imprimés
Distance de travail : 185 mm
Distance de travail : 56 mm
Inclinaison possible +/- 30° - Rotation possible
Avec insert adhérent diamètre 84mm
Avec 2 pinces de blocage échantillon
Oculaire 10x/23 avec micromètre 10/100
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Platine type ''Sliding'' - Déplacements XY à mains
Surface de travail : 125x170 mm
Mouvements XY : 100x100 mm
Pour éclairage en réflexion
Base plate ergonomique avec support de corps stéréomicroscope
Système de mise au point (crémaillère). Sans éclairage.
Alimentations intégrées pour éclairages (type annulaire, spot, ...)
Base 310x200 mm