Réticule de mesure 2x/20:200, 26 mm
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Référence: 4355269020000
Pour statifs série K ou M
Pour statifs série K ou M
Réticule de mesure 2x/20:200, d=26 mm
Distance de travail : 185 mm
Support de stéréomicroscope colonne 32 avec mouvement
Platine type ''Sliding'' - Déplacements XY à mains
Surface de travail : 125x170 mm
Mouvements XY : 100x100 mm
Avec insert en verre d=94,5mm pour éclairage en transmission
Zoom gradué à crans 0,8x à 4x. Système optique Greenough
Oculaires 10x/23 Br Focus. Ratio Zoom 5/1
Grossissements 8x à 40x
FOV Max : 29mm - WD = 110mm
Eclairage semi-coaxial intégré (alimentation par statif ou contrôleur)
Se monte sur Stand M LED
Eclairage en transmission champ clair, oblique et fond noir par miroir
Miroir orientable
Modifie la hauteur du statif de 58mm
Base ergonomique avec support corps stéréomicroscope
Système de mise au point à crémaillère
Potentiomètres de réglage de l'intensité lumineuse
Eclairage LED en transmission avec miroir orientable (Champ clair, fond noir et éclairage oblique)
Electronique / alimentation pour éclairage en réflexion
Base : 310x200mm
Distance de travail : 43 mm
Polariseur/Analyseur tournant - Monture M49/52
Molettes de déplacements, pinces de blocage échantillon
Surface de travail : 116x137 mm
Mouvements XY : 50x75 mm
Pour éclairage en réflexion